Laboratorio Indagini scientifiche per la diagnostica per i beni culturali - DII
Dipartimento di appartenenza:
INFN RM2
Responsabile:
Marco Marinelli (marco.marinelli@uniroma2.it)
Descrizione delle principali attività legate ai beni e alle attività culturali:
Indagini scientifiche per la diagnostica per i beni culturali con esperienza nella caratterizzazione di opere cartacee o pergamenacee (manoscritti, libri antichi, miniature), pittoricMarco he (dipinti su tela, tavole lignee, affreschi) e scultoree attraverso l’uso di strumentazione sia fissa che portatile per analisi per immagini e puntuali, anche in situ.
Strumentazioni disponibili:
XRF (ELIO XGlab); Camera InGaAs (Xenics XEVA 640, 900 – 1700 nm); Fotocamera NIR-converted Nikon D7100 (370 - 1100 nm); Sistema per misure di riflettanza e colorimetriche; Spettrometro B&WTek Mod. Exemplar (350 - 1050 nm) + Lampada Alogena B&W Tek da 20 W + Sfera integratrice; LIF portatile: Spettrometro B&W Tek Mod. Exemplar + Laser ElforLight, 266 nm, pulse width 2 ns, maximum repetition frequency 25 kHz; Termocamera FLIR A6750sc, banda spettrale 3-5 μm (MWIR), sensore 640x512 pixels, frame rate full window 125 fps; Sistema di illuminazione: n. 3 lampade alogene da 400 W + stativi filtri dicroici e diffusori + lampada di Wood da 400 W; LIF risolta in tempo: Laser “tunabile” (Opolette 210-2400 nm) + Spettrografo (Acton Research 300) con gated multichannel plate CCD camera (PI-MAX by Princeton Instruments), 2 ns di risoluzione temporale.
Indagini scientifiche per la diagnostica per i beni culturali con esperienza nella caratterizzazione di opere cartacee o pergamenacee (manoscritti, libri antichi, miniature), pittoricMarco he (dipinti su tela, tavole lignee, affreschi) e scultoree attraverso l’uso di strumentazione sia fissa che portatile per analisi per immagini e puntuali, anche in situ.
XRF (ELIO XGlab); Camera InGaAs (Xenics XEVA 640, 900 – 1700 nm); Fotocamera NIR-converted Nikon D7100 (370 - 1100 nm); Sistema per misure di riflettanza e colorimetriche; Spettrometro B&WTek Mod. Exemplar (350 - 1050 nm) + Lampada Alogena B&W Tek da 20 W + Sfera integratrice; LIF portatile: Spettrometro B&W Tek Mod. Exemplar + Laser ElforLight, 266 nm, pulse width 2 ns, maximum repetition frequency 25 kHz; Termocamera FLIR A6750sc, banda spettrale 3-5 μm (MWIR), sensore 640x512 pixels, frame rate full window 125 fps; Sistema di illuminazione: n. 3 lampade alogene da 400 W + stativi filtri dicroici e diffusori + lampada di Wood da 400 W; LIF risolta in tempo: Laser “tunabile” (Opolette 210-2400 nm) + Spettrografo (Acton Research 300) con gated multichannel plate CCD camera (PI-MAX by Princeton Instruments), 2 ns di risoluzione temporale.
Rete:
Ente di appartenenza: