L’attività riguarda la caratterizzazione di materiali per mezzo di Microscopia a Scansione di Sonda utilizzando segnali ad Alta Frequenza. La misura consente di ottenere informazioni in riflessione e trasmissione del segnale sia in termini di imaging che di spettroscopia su aree dell'ordine di alcuni cm2 o meno estese (con risoluzione micro-metrica e sub-micrometrica rispettivamente). L’attuale interesse è quello di misurare campioni "cultural heritage" di piccole dimensioni e preferibilmente planari, valutando gli eventuali vantaggi di imaging e spettroscopia ad alta frequenza, utilizzando lunghezze d’onda a frequenze di microonde e nel millimetrico, caratterizzate da alta penetrazione nella maggior parte dei materiali dielettrici, e avendo come risoluzione quella delle dimensioni della sonda. Campioni per analisi superficiale e sotto-superficiale possono riguardare: documenti, dipinti e manufatti in genere suscettibili di analisi mediante scansione di sonda.